المؤلفون: Dawant, Raphaël, Gaudreau, Matthieu, Roy, Marc-Antoine, Mouny, Pierre-Antoine, Valdenaire, Matthieu, Gliech, Pierre, Arias-Zapata, Javier, Zegaoui, Malek, Alibart, F., Drouin, Dominique, Ecoffey, Serge

المساهمون: Laboratoire Nanotechnologies et Nanosystèmes Sherbrooke (LN2), Université de Sherbrooke (UdeS)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes (UGA), Institut Interdisciplinaire d'Innovation Technologique Sherbrooke (3IT), Université de Sherbrooke (UdeS), Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA), Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL), Institut de Recherche sur les Composants logiciels et matériels pour l'Information et la Communication Avancée - UAR 3380 (IRCICA), Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), "This work was supported by the Natural Sciences and Engineering Research Council of Canada (NSERC) HIDATA project 506289-2017 and Mitacs Accelerate program IT19472. "

المصدر: ISSN: 2590-0072 ; Micro and Nano Engineering ; https://hal.science/hal-04607951Test ; Micro and Nano Engineering, 2024, 23, pp.100251. ⟨10.1016/j.mne.2024.100251⟩.

مصطلحات موضوعية: CMP, Resistive memory, Crossbar array, Damascene, Subtractive line, BEOL, Integration, [PHYS]Physics [physics], [SPI]Engineering Sciences [physics]

العلاقة: hal-04607951; https://hal.science/hal-04607951Test; https://hal.science/hal-04607951/documentTest; https://hal.science/hal-04607951/file/1-s2.0-S2590007224000145-main.pdfTest

الإتاحة: https://doi.org/10.1016/j.mne.2024.100251Test
https://hal.science/hal-04607951Test
https://hal.science/hal-04607951/documentTest
https://hal.science/hal-04607951/file/1-s2.0-S2590007224000145-main.pdfTest

المؤلفون: Dawant, Raphaël, Gaudreau, Matthieu, Roy, Marc-Antoine, Mouny, Pierre-Antoine, Valdenaire, Matthieu, Gliech, Pierre, Arias-Zapata, Javier, Zegaoui, Malek, Alibart, F., Drouin, Dominique, Ecoffey, Serge

المساهمون: Laboratoire Nanotechnologies et Nanosystèmes Sherbrooke (LN2), Université de Sherbrooke (UdeS)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes (UGA), Institut Interdisciplinaire d'Innovation Technologique Sherbrooke (3IT), Université de Sherbrooke (UdeS), Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA), Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL), Institut de Recherche sur les Composants logiciels et matériels pour l'Information et la Communication Avancée - UAR 3380 (IRCICA), Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), "This work was supported by the Natural Sciences and Engineering Research Council of Canada (NSERC) HIDATA project 506289-2017 and Mitacs Accelerate program IT19472. "

المصدر: ISSN: 2590-0072 ; Micro and Nano Engineering ; https://hal.science/hal-04607951Test ; Micro and Nano Engineering, 2024, 23, pp.100251. ⟨10.1016/j.mne.2024.100251⟩.

مصطلحات موضوعية: CMP, Resistive memory, Crossbar array, Damascene, Subtractive line, BEOL, Integration, [PHYS]Physics [physics], [SPI]Engineering Sciences [physics]

العلاقة: hal-04607951; https://hal.science/hal-04607951Test; https://hal.science/hal-04607951/documentTest; https://hal.science/hal-04607951/file/1-s2.0-S2590007224000145-main.pdfTest

الإتاحة: https://doi.org/10.1016/j.mne.2024.100251Test
https://hal.science/hal-04607951Test
https://hal.science/hal-04607951/documentTest
https://hal.science/hal-04607951/file/1-s2.0-S2590007224000145-main.pdfTest

المؤلفون: Dawant, Raphaël, Gaudreau, Matthieu, Roy, Marc-Antoine, Mouny, Pierre-Antoine, Valdenaire, Matthieu, Gliech, Pierre, Arias-Zapata, Javier, Zegaoui, Malek, Alibart, F., Drouin, Dominique, Ecoffey, Serge

المساهمون: Laboratoire Nanotechnologies et Nanosystèmes Sherbrooke (LN2), Université de Sherbrooke (UdeS)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes (UGA), Institut Interdisciplinaire d'Innovation Technologique Sherbrooke (3IT), Université de Sherbrooke (UdeS), Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA), Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL), Institut de Recherche sur les Composants logiciels et matériels pour l'Information et la Communication Avancée - UAR 3380 (IRCICA), Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), "This work was supported by the Natural Sciences and Engineering Research Council of Canada (NSERC) HIDATA project 506289-2017 and Mitacs Accelerate program IT19472. "

المصدر: ISSN: 2590-0072 ; Micro and Nano Engineering ; https://hal.science/hal-04607951Test ; Micro and Nano Engineering, 2024, 23, pp.100251. ⟨10.1016/j.mne.2024.100251⟩.

مصطلحات موضوعية: CMP, Resistive memory, Crossbar array, Damascene, Subtractive line, BEOL, Integration, [PHYS]Physics [physics], [SPI]Engineering Sciences [physics]

العلاقة: hal-04607951; https://hal.science/hal-04607951Test; https://hal.science/hal-04607951/documentTest; https://hal.science/hal-04607951/file/1-s2.0-S2590007224000145-main.pdfTest

الإتاحة: https://doi.org/10.1016/j.mne.2024.100251Test
https://hal.science/hal-04607951Test
https://hal.science/hal-04607951/documentTest
https://hal.science/hal-04607951/file/1-s2.0-S2590007224000145-main.pdfTest

المؤلفون: Palhares, Joao Henrique Quintino, Beilliard, Yann, Sandrini, Jury, Arnaud, Franck, Garello, Kevin, Prenat, Guillaume, Anghel, Lorena, Alibart, Fabien, Drouin, Dominique, Galy, Philippe

المساهمون: SPINtronique et TEchnologie des Composants (SPINTEC), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche Interdisciplinaire de Grenoble (IRIG), Direction de Recherche Fondamentale (CEA) (DRF (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Direction de Recherche Fondamentale (CEA) (DRF (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Grenoble Alpes (UGA), Institut Interdisciplinaire d'Innovation Technologique Sherbrooke (3IT), Université de Sherbrooke (UdeS), Laboratoire Nanotechnologies et Nanosystèmes Sherbrooke (LN2), Université de Sherbrooke (UdeS)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes (UGA), STMicroelectronics Crolles (ST-CROLLES), Nanostructures, nanoComponents & Molecules - IEMN (NCM - IEMN), Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA), Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL)-Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA), Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL), This work was financially supported by STMicroelectronics SA and the French CIFRE Program (Conventions Industrielles pour la Formation par la Recherche). We also acknowledge the SPINTEC IC design team and the Laboratoire Nanotechnologies et Nanosystèmes (LN2)/International Research Laboratory., ANR-19-P3IA-0003,MIAI,MIAI @ Grenoble Alpes(2019)

المصدر: ISSN: 0038-1101 ; Solid-State Electronics ; https://hal.science/hal-04221623Test ; Solid-State Electronics, 2023, 209, pp.108779. ⟨10.1016/j.sse.2023.108779⟩.

مصطلحات موضوعية: UTBB 28nm FD-SOI, Analog SNN, Analog eNVM, eNVM integration, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics

العلاقة: info:eu-repo/semantics/altIdentifier/arxiv/2305.16187; hal-04221623; https://hal.science/hal-04221623Test; https://hal.science/hal-04221623/documentTest; https://hal.science/hal-04221623/file/2305.16187.pdfTest; ARXIV: 2305.16187

الإتاحة: https://doi.org/10.1016/j.sse.2023.108779Test
https://hal.science/hal-04221623Test
https://hal.science/hal-04221623/documentTest
https://hal.science/hal-04221623/file/2305.16187.pdfTest

المؤلفون: Palhares, Joao Henrique Quintino, Beilliard, Yann, Sandrini, Jury, Arnaud, Franck, Garello, Kevin, Prenat, Guillaume, Anghel, Lorena, Alibart, Fabien, Drouin, Dominique, Galy, Philippe

المساهمون: SPINtronique et TEchnologie des Composants (SPINTEC), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche Interdisciplinaire de Grenoble (IRIG), Direction de Recherche Fondamentale (CEA) (DRF (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Direction de Recherche Fondamentale (CEA) (DRF (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Grenoble Alpes (UGA), Institut Interdisciplinaire d'Innovation Technologique Sherbrooke (3IT), Université de Sherbrooke (UdeS), Laboratoire Nanotechnologies et Nanosystèmes Sherbrooke (LN2), Université de Sherbrooke (UdeS)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes (UGA), STMicroelectronics Crolles (ST-CROLLES), Nanostructures, nanoComponents & Molecules - IEMN (NCM - IEMN), Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA), Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL)-Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA), Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL), This work was financially supported by STMicroelectronics SA and the French CIFRE Program (Conventions Industrielles pour la Formation par la Recherche). We also acknowledge the SPINTEC IC design team and the Laboratoire Nanotechnologies et Nanosystèmes (LN2)/International Research Laboratory., ANR-19-P3IA-0003,MIAI,MIAI @ Grenoble Alpes(2019)

المصدر: ISSN: 0038-1101 ; Solid-State Electronics ; https://hal.science/hal-04221623Test ; Solid-State Electronics, 2023, 209, pp.108779. ⟨10.1016/j.sse.2023.108779⟩.

مصطلحات موضوعية: UTBB 28nm FD-SOI, Analog SNN, Analog eNVM, eNVM integration, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics

العلاقة: info:eu-repo/semantics/altIdentifier/arxiv/2305.16187; hal-04221623; https://hal.science/hal-04221623Test; https://hal.science/hal-04221623/documentTest; https://hal.science/hal-04221623/file/2305.16187.pdfTest; ARXIV: 2305.16187

الإتاحة: https://doi.org/10.1016/j.sse.2023.108779Test
https://hal.science/hal-04221623Test
https://hal.science/hal-04221623/documentTest
https://hal.science/hal-04221623/file/2305.16187.pdfTest

المؤلفون: Palhares, Joao Henrique Quintino, Beilliard, Yann, Sandrini, Jury, Arnaud, Franck, Garello, Kevin, Prenat, Guillaume, Anghel, Lorena, Alibart, Fabien, Drouin, Dominique, Galy, Philippe

المساهمون: SPINtronique et TEchnologie des Composants (SPINTEC), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche Interdisciplinaire de Grenoble (IRIG), Direction de Recherche Fondamentale (CEA) (DRF (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Direction de Recherche Fondamentale (CEA) (DRF (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Grenoble Alpes (UGA), Institut Interdisciplinaire d'Innovation Technologique Sherbrooke (3IT), Université de Sherbrooke (UdeS), Laboratoire Nanotechnologies et Nanosystèmes Sherbrooke (LN2), Université de Sherbrooke (UdeS)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes (UGA), STMicroelectronics Crolles (ST-CROLLES), Nanostructures, nanoComponents & Molecules - IEMN (NCM - IEMN), Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA), Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL)-Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA), Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL), This work was financially supported by STMicroelectronics SA and the French CIFRE Program (Conventions Industrielles pour la Formation par la Recherche). We also acknowledge the SPINTEC IC design team and the Laboratoire Nanotechnologies et Nanosystèmes (LN2)/International Research Laboratory., ANR-19-P3IA-0003,MIAI,MIAI @ Grenoble Alpes(2019)

المصدر: ISSN: 0038-1101 ; Solid-State Electronics ; https://hal.science/hal-04221623Test ; Solid-State Electronics, 2023, 209, pp.108779. ⟨10.1016/j.sse.2023.108779⟩.

مصطلحات موضوعية: UTBB 28nm FD-SOI, Analog SNN, Analog eNVM, eNVM integration, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics

العلاقة: info:eu-repo/semantics/altIdentifier/arxiv/2305.16187; hal-04221623; https://hal.science/hal-04221623Test; https://hal.science/hal-04221623/documentTest; https://hal.science/hal-04221623/file/2305.16187.pdfTest; ARXIV: 2305.16187

الإتاحة: https://doi.org/10.1016/j.sse.2023.108779Test
https://hal.science/hal-04221623Test
https://hal.science/hal-04221623/documentTest
https://hal.science/hal-04221623/file/2305.16187.pdfTest

المؤلفون: Mesoudy, Abdelouadoud El, Machon, Denis, Ruediger, Andreas, Jaouad, Abdelatif, Alibart, Fabien, Ecoffey, Serge, Drouin, Dominique

المساهمون: Laboratoire Nanotechnologies et Nanosystèmes Sherbrooke (LN2), Université de Sherbrooke (UdeS)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes (UGA), Institut Interdisciplinaire d'Innovation Technologique Sherbrooke (3IT), Université de Sherbrooke (UdeS), Institut National de la Recherche Scientifique Québec (INRS), Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA), Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL), Nanostructures, nanoComponents & Molecules - IEMN (NCM - IEMN), Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL)-Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA), This work was supported by the Natural Sciences and Engineering Research Council of Canada (NSERC) HIDATA project 506289-2017 and ERC-CoG IONOS (# GA 773228). A.R. and D.D. gratefully acknowledge the financial support from NSERC discovery grants (RGPIN-2019–07023 and RGPIN-2019–06183, respectively). This work was also supported by the CHIST-ERA UNICO project and Fond de Recherche du Québec Nature et Technologies (FRQNT). We would like to acknowledge Sonia Blais from Plateforme de Recherche et d'Analyse des Matériaux (PRAM) at the Université de Sherbrooke., ANR-19-CHR3-0006,UNICO,Unsupervised spiking neural networks with analog memristive devices for edge computing(2019), European Project: 773228,H2020,ERC-2017-COG,IONOS(2018)

المصدر: ISSN: 0040-6090 ; Thin Solid Films ; https://hal.science/hal-04006822Test ; Thin Solid Films, 2023, 769, pp.139737. ⟨10.1016/j.tsf.2023.139737⟩.

مصطلحات موضوعية: Titanium dioxide, Bandgap narrowing, Reactive sputtering, Oxygen vacancies, Urbach tails, [PHYS]Physics [physics], [SPI]Engineering Sciences [physics]

العلاقة: info:eu-repo/grantAgreement//773228/EU/An iono-electronic neuromorphic interface for communication with living systems/IONOS; hal-04006822; https://hal.science/hal-04006822Test

الإتاحة: https://doi.org/10.1016/j.tsf.2023.139737Test
https://hal.science/hal-04006822Test

المؤلفون: Palhares, Joao Henrique Quintino, Beilliard, Yann, Sandrini, Jury, Arnaud, Franck, Garello, Kevin, Prenat, Guillaume, Anghel, Lorena, Alibart, Fabien, Drouin, Dominique, Galy, Philippe

المساهمون: SPINtronique et TEchnologie des Composants (SPINTEC), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche Interdisciplinaire de Grenoble (IRIG), Direction de Recherche Fondamentale (CEA) (DRF (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Direction de Recherche Fondamentale (CEA) (DRF (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Grenoble Alpes (UGA), Institut Interdisciplinaire d'Innovation Technologique Sherbrooke (3IT), Université de Sherbrooke (UdeS), Laboratoire Nanotechnologies et Nanosystèmes Sherbrooke (LN2), Université de Sherbrooke (UdeS)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes (UGA), STMicroelectronics Crolles (ST-CROLLES), Nanostructures, nanoComponents & Molecules - IEMN (NCM - IEMN), Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA), Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL)-Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA), Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL), This work was financially supported by STMicroelectronics SA and the French CIFRE Program (Conventions Industrielles pour la Formation par la Recherche). We also acknowledge the SPINTEC IC design team and the Laboratoire Nanotechnologies et Nanosystèmes (LN2)/International Research Laboratory., ANR-19-P3IA-0003,MIAI,MIAI @ Grenoble Alpes(2019)

المصدر: ISSN: 0038-1101 ; Solid-State Electronics ; https://hal.science/hal-04221623Test ; Solid-State Electronics, 2023, 209, pp.108779. ⟨10.1016/j.sse.2023.108779⟩.

مصطلحات موضوعية: UTBB 28nm FD-SOI, Analog SNN, Analog eNVM, eNVM integration, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics

العلاقة: info:eu-repo/semantics/altIdentifier/arxiv/2305.16187; hal-04221623; https://hal.science/hal-04221623Test; https://hal.science/hal-04221623/documentTest; https://hal.science/hal-04221623/file/2305.16187.pdfTest; ARXIV: 2305.16187

الإتاحة: https://doi.org/10.1016/j.sse.2023.108779Test
https://hal.science/hal-04221623Test
https://hal.science/hal-04221623/documentTest
https://hal.science/hal-04221623/file/2305.16187.pdfTest

المؤلفون: Palhares, Joao Henrique Quintino, Beilliard, Yann, Sandrini, Jury, Arnaud, Franck, Garello, Kevin, Prenat, Guillaume, Anghel, Lorena, Alibart, Fabien, Drouin, Dominique, Galy, Philippe

المساهمون: SPINtronique et TEchnologie des Composants (SPINTEC), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche Interdisciplinaire de Grenoble (IRIG), Direction de Recherche Fondamentale (CEA) (DRF (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Direction de Recherche Fondamentale (CEA) (DRF (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Grenoble Alpes (UGA), Institut Interdisciplinaire d'Innovation Technologique Sherbrooke (3IT), Université de Sherbrooke (UdeS), Laboratoire Nanotechnologies et Nanosystèmes Sherbrooke (LN2), Université de Sherbrooke (UdeS)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes (UGA), STMicroelectronics Crolles (ST-CROLLES), Nanostructures, nanoComponents & Molecules - IEMN (NCM - IEMN), Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA), Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL)-Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA), Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL), This work was financially supported by STMicroelectronics SA and the French CIFRE Program (Conventions Industrielles pour la Formation par la Recherche). We also acknowledge the SPINTEC IC design team and the Laboratoire Nanotechnologies et Nanosystèmes (LN2)/International Research Laboratory., ANR-19-P3IA-0003,MIAI,MIAI @ Grenoble Alpes(2019)

المصدر: ISSN: 0038-1101 ; Solid-State Electronics ; https://hal.science/hal-04221623Test ; Solid-State Electronics, 2023, 209, pp.108779. ⟨10.1016/j.sse.2023.108779⟩.

مصطلحات موضوعية: UTBB 28nm FD-SOI, Analog SNN, Analog eNVM, eNVM integration, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics

العلاقة: info:eu-repo/semantics/altIdentifier/arxiv/2305.16187; hal-04221623; https://hal.science/hal-04221623Test; https://hal.science/hal-04221623/documentTest; https://hal.science/hal-04221623/file/2305.16187.pdfTest; ARXIV: 2305.16187

الإتاحة: https://doi.org/10.1016/j.sse.2023.108779Test
https://hal.science/hal-04221623Test
https://hal.science/hal-04221623/documentTest
https://hal.science/hal-04221623/file/2305.16187.pdfTest

المؤلفون: Palhares, Joao Henrique Quintino, Beilliard, Yann, Sandrini, Jury, Arnaud, Franck, Garello, Kevin, Prenat, Guillaume, Anghel, Lorena, Alibart, Fabien, Drouin, Dominique, Galy, Philippe

المساهمون: SPINtronique et TEchnologie des Composants (SPINTEC), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche Interdisciplinaire de Grenoble (IRIG), Direction de Recherche Fondamentale (CEA) (DRF (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Direction de Recherche Fondamentale (CEA) (DRF (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Grenoble Alpes (UGA), Institut Interdisciplinaire d'Innovation Technologique Sherbrooke (3IT), Université de Sherbrooke (UdeS), Laboratoire Nanotechnologies et Nanosystèmes Sherbrooke (LN2), Université de Sherbrooke (UdeS)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes (UGA), STMicroelectronics Crolles (ST-CROLLES), Nanostructures, nanoComponents & Molecules - IEMN (NCM - IEMN), Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA), Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL)-Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA), Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL), This work was financially supported by STMicroelectronics SA and the French CIFRE Program (Conventions Industrielles pour la Formation par la Recherche). We also acknowledge the SPINTEC IC design team and the Laboratoire Nanotechnologies et Nanosystèmes (LN2)/International Research Laboratory., ANR-19-P3IA-0003,MIAI,MIAI @ Grenoble Alpes(2019)

المصدر: ISSN: 0038-1101 ; Solid-State Electronics ; https://hal.science/hal-04221623Test ; Solid-State Electronics, 2023, 209, pp.108779. ⟨10.1016/j.sse.2023.108779⟩.

مصطلحات موضوعية: UTBB 28nm FD-SOI, Analog SNN, Analog eNVM, eNVM integration, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics

العلاقة: info:eu-repo/semantics/altIdentifier/arxiv/2305.16187; hal-04221623; https://hal.science/hal-04221623Test; https://hal.science/hal-04221623/documentTest; https://hal.science/hal-04221623/file/2305.16187.pdfTest; ARXIV: 2305.16187

الإتاحة: https://doi.org/10.1016/j.sse.2023.108779Test
https://hal.science/hal-04221623Test
https://hal.science/hal-04221623/documentTest
https://hal.science/hal-04221623/file/2305.16187.pdfTest