دورية أكاديمية

Thickness effect on ferroelectric domain formation in compressively strained K 0.65 Na 0.35 NbO 3 epitaxial films

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Thickness effect on ferroelectric domain formation in compressively strained K 0.65 Na 0.35 NbO 3 epitaxial films
المؤلفون: Wang, Yankun, Bin Anooz, Saud, Niu, Gang, Schmidbauer, Martin, Wang, Lingyan, Ren, Wei, Schwarzkopf, Jutta
المساهمون: European Regional Development Fund, Fundamental Research Funds for the Central Universities, Deutsche Forschungsgemeinschaft
المصدر: Physical Review Materials ; volume 6, issue 8 ; ISSN 2475-9953
بيانات النشر: American Physical Society (APS)
سنة النشر: 2022
نوع الوثيقة: article in journal/newspaper
اللغة: English
DOI: 10.1103/physrevmaterials.6.084413
DOI: 10.1103/PhysRevMaterials.6.084413
DOI: 10.1103/PhysRevMaterials.6.084413/fulltext
الإتاحة: https://doi.org/10.1103/physrevmaterials.6.084413Test
حقوق: https://link.aps.org/licenses/aps-default-licenseTest
رقم الانضمام: edsbas.D8A218BB
قاعدة البيانات: BASE