المؤلفون: Keymeulen, Heilke R., Diaz, Ana, Solak, Harun H., David, Christian, Pfeiffer, Franz, Patterson, Bruce D., van der Veen, J. Friso, Stoykovich, Mark P., Nealey, Paul F.

المصدر: Journal of Applied Physics; 7/1/2007, Vol. 102 Issue 1, p013528, 5p, 2 Diagrams, 1 Chart, 3 Graphs

مصطلحات موضوعية: X-ray diffraction, POLYMERS, GLASS transition temperature, METHYL methacrylate, NANOSTRUCTURES, MOLECULAR weights

المؤلفون: Bongaerts, J. H. H., Zwanenburg, M. J., Zontone, F., van der Veen, J. F.

المصدر: Journal of Applied Physics; 7/1/2001, Vol. 90 Issue 1, p94, 7p, 4 Black and White Photographs, 4 Diagrams

مصطلحات موضوعية: OPTICAL waveguides, X-rays

المؤلفون: Zagwijn, P. M., van der Veen, J. F., Vlieg, E., Reader, A. H., Gravesteijn, D. J.

المصدر: Journal of Applied Physics. 10/15/1995, Vol. 78 Issue 8, p4933. 6p.

مصطلحات موضوعية: *SEMICONDUCTOR doping, *GALLIUM, *SILICON

المؤلفون: Konuma, K., Vrijmoeth, J., Zagwijn, P. M., Frenken, J. W. M., Vlieg, E., van der Veen, J. F.

المصدر: Journal of Applied Physics; 2/1/1993, Vol. 73 Issue 3, p1104, 6p

مصطلحات موضوعية: EPITAXY, IRON compounds, ANNEALING of metals, SILICON

المؤلفون: Slijkerman, W. F. J., Zagwijn, P. M., van der Veen, J. F., van de Walle, G. F. A., Gravesteijn, D. J.

المصدر: Journal of Applied Physics; 8/15/1991, Vol. 70 Issue 4, p2111, 6p

مصطلحات موضوعية: ANTIMONY, SILICON, SEMICONDUCTOR doping

المؤلفون: Slijkerman, W. F. J., Gay, J. M., Zagwijn, P. M., van der Veen, J. F., Macdonald, J. E., Williams, A. A., Gravesteijn, D. J., van de Walle, G. F. A.

المصدر: Journal of Applied Physics; 11/15/1990, Vol. 68 Issue 10, p5105, 4p

مصطلحات موضوعية: REFLECTANCE, X-rays, ANTIMONY, ATOMS

المؤلفون: Slijkerman, W. F. J., Fischer, A. E. M. J., van der Veen, J. F., Ohdomari, I., Yoshida, S., Misawa, S.

المصدر: Journal of Applied Physics; 7/15/1989, Vol. 66 Issue 2, p666, 8p

مصطلحات موضوعية: THIN films, SILICIDES, BACKSCATTERING, IONS

المؤلفون: Fischer, A. E. M. J., Slijkerman, W. F. J., Nakagawa, K., Smith, R. J., van der Veen, J. F., Bulle-Lieuwma, C. W. T.

المصدر: Journal of Applied Physics; 9/15/1988, Vol. 64 Issue 6, p3005, 9p, 2 Black and White Photographs, 2 Diagrams, 7 Graphs

مصطلحات موضوعية: THIN films, SILICON

المؤلفون: Marée, P. M. J., Barbour, J. C., van der Veen, J. F., Kavanagh, K. L., Bulle-Lieuwma, C. W. T., Viegers, M. P. A.

المصدر: Journal of Applied Physics; 12/1/1987, Vol. 62 Issue 11, p4413, 8p, 5 Black and White Photographs, 2 Diagrams, 2 Graphs

مصطلحات موضوعية: SEMICONDUCTORS, HETEROSTRUCTURES, ELECTRON microscopy

المؤلفون: Marée, P. M. J., Olthof, R. I. J., Frenken, J. W. M., van der Veen, J. F., Bulle-Lieuwma, C. W. T., Viegers, M. P. A., Zalm, P. C.

المصدر: Journal of Applied Physics; 10/15/1985, Vol. 58 Issue 8, p3097, 7p, 2 Black and White Photographs, 3 Diagrams, 3 Charts, 4 Graphs

مصطلحات موضوعية: LATTICE dynamics, STRAINS & stresses (Mechanics), THIN films, SILICON, MOLECULAR beam epitaxy