المؤلفون: Buvat, Gaëtan, Eslamibidgoli, Mohammad, Zhang, Tianjun, Prabhudev, Sagar, Youssef, Azza Hadj, Ruediger, Andreas, Garbarino, Sébastien, Botton, Gianluigi, Zhang, Peng, Eikerling, Michael, Guay, Daniel

المساهمون: Institut National de la Recherche Scientifique Québec (INRS), Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA), Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL), Simon Fraser University = Université Simon Fraser (SFU.ca), Institute of Energy and Climate Research - Fundamental Electrochemistry ( IEK-9), Forschungszentrum Jülich GmbH, Helmholtz-Gemeinschaft = Helmholtz Association-Helmholtz-Gemeinschaft = Helmholtz Association, Dalhousie University Halifax, McMaster University Hamilton, Ontario, Énergie Matériaux Télécommunications - INRS (EMT-INRS), Institut National de la Recherche Scientifique Québec (INRS)-Université du Québec à Montréal = University of Québec in Montréal (UQAM)

المصدر: ISSN: 2155-5435.

مصطلحات موضوعية: DFT calculation, iridium oxide, nickel oxide, oxygen evolution reaction, pulsed laser deposition, [SPI]Engineering Sciences [physics]

العلاقة: hal-03775351; https://hal.science/hal-03775351Test

الإتاحة: https://doi.org/10.1021/acscatal.2c02591Test
https://hal.science/hal-03775351Test

المؤلفون: Buvat, Gaëtan, Eslamibidgoli, Mohammad, Zhang, Tianjun, Prabhudev, Sagar, Youssef, Azza Hadj, Ruediger, Andreas, Garbarino, Sébastien, Botton, Gianluigi, Zhang, Peng, Eikerling, Michael, Guay, Daniel

المساهمون: Institut National de la Recherche Scientifique Québec (INRS), Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA), Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL), Simon Fraser University = Université Simon Fraser (SFU.ca), Institute of Energy and Climate Research - Fundamental Electrochemistry ( IEK-9), Forschungszentrum Jülich GmbH, Helmholtz-Gemeinschaft = Helmholtz Association-Helmholtz-Gemeinschaft = Helmholtz Association, Dalhousie University Halifax, McMaster University Hamilton, Ontario, Énergie Matériaux Télécommunications - INRS (EMT-INRS), Institut National de la Recherche Scientifique Québec (INRS)-Université du Québec à Montréal = University of Québec in Montréal (UQAM)

المصدر: ISSN: 2155-5435.

مصطلحات موضوعية: DFT calculation, iridium oxide, nickel oxide, oxygen evolution reaction, pulsed laser deposition, [SPI]Engineering Sciences [physics]

العلاقة: hal-03775351; https://hal.science/hal-03775351Test

الإتاحة: https://doi.org/10.1021/acscatal.2c02591Test
https://hal.science/hal-03775351Test

المؤلفون: Buvat, Gaëtan, Eslamibidgoli, Mohammad, Zhang, Tianjun, Prabhudev, Sagar, Youssef, Azza Hadj, Ruediger, Andreas, Garbarino, Sébastien, Botton, Gianluigi, Zhang, Peng, Eikerling, Michael, Guay, Daniel

المساهمون: Institut National de la Recherche Scientifique Québec (INRS), Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA), Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL), Circuits Systèmes Applications des Micro-ondes - IEMN (CSAM - IEMN ), Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL)-Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA), Simon Fraser University = Université Simon Fraser (SFU.ca), Institute of Energy and Climate Research - Fundamental Electrochemistry ( IEK-9), Forschungszentrum Jülich GmbH, Helmholtz-Gemeinschaft = Helmholtz Association-Helmholtz-Gemeinschaft = Helmholtz Association, Dalhousie University Halifax, McMaster University Hamilton, Ontario, Énergie Matériaux Télécommunications - INRS (EMT-INRS), Institut National de la Recherche Scientifique Québec (INRS)-Université du Québec à Montréal = University of Québec in Montréal (UQAM)

المصدر: ISSN: 2155-5435.

مصطلحات موضوعية: DFT calculation, iridium oxide, nickel oxide, oxygen evolution reaction, pulsed laser deposition, [SPI]Engineering Sciences [physics]

العلاقة: hal-03775351; https://hal.science/hal-03775351Test

الإتاحة: https://doi.org/10.1021/acscatal.2c02591Test
https://hal.science/hal-03775351Test

المؤلفون: Buvat, Gaëtan, Eslamibidgoli, Mohammad, Zhang, Tianjun, Prabhudev, Sagar, Youssef, Azza Hadj, Ruediger, Andreas, Garbarino, Sébastien, Botton, Gianluigi, Zhang, Peng, Eikerling, Michael, Guay, Daniel

المساهمون: Institut National de la Recherche Scientifique Québec (INRS), Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA), Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL), Simon Fraser University (SFU.ca), Institute of Energy and Climate Research - Fundamental Electrochemistry ( IEK-9), Forschungszentrum Jülich GmbH, Helmholtz-Gemeinschaft = Helmholtz Association-Helmholtz-Gemeinschaft = Helmholtz Association, Dalhousie University Halifax, McMaster University Hamilton, Ontario, Énergie Matériaux Télécommunications - INRS (EMT-INRS), Institut National de la Recherche Scientifique Québec (INRS)-Université du Québec à Montréal = University of Québec in Montréal (UQAM)

المصدر: ISSN: 2155-5435.

مصطلحات موضوعية: DFT calculation, iridium oxide, nickel oxide, oxygen evolution reaction, pulsed laser deposition, [SPI]Engineering Sciences [physics]

العلاقة: hal-03775351; https://hal.science/hal-03775351Test

الإتاحة: https://doi.org/10.1021/acscatal.2c02591Test
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