مؤتمر
Impacts of design pattern decay on system quality
| العنوان: | Impacts of design pattern decay on system quality |
|---|---|
| المؤلفون: | Dale, Melissa R., Izurieta, Clemente |
| المصدر: | Proceedings of the 8th ACM/IEEE International Symposium on Empirical Software Engineering and Measurement |
| بيانات النشر: | ACM |
| سنة النشر: | 2014 |
| نوع الوثيقة: | conference object |
| اللغة: | unknown |
| DOI: | 10.1145/2652524.2652560 |
| الإتاحة: | https://doi.org/10.1145/2652524.2652560Test |
| رقم الانضمام: | edsbas.F7D6EACE |
| قاعدة البيانات: | BASE |
| DOI: | 10.1145/2652524.2652560 |
|---|