المؤلفون: Kildemo, Morten, Aas, Lars M. S., Ellingsen, Pål G., Hemmen, Henrik, Hansen, Elisabeth L., Fossum, Jon O.

المساهمون: Lehmann, Peter H., Osten, Wolfgang, Gastinger, Kay

المصدر: SPIE Proceedings ; Optical Measurement Systems for Industrial Inspection VII ; ISSN 0277-786X

الإتاحة: https://doi.org/10.1117/12.889569Test

المؤلفون: Buchanan, Mark, Aas, Gaute M., Moshfegh, Bahram

المصدر: Proceedings of SPIE ; ISSN 0277-786X

الإتاحة: https://doi.org/10.1117/12.733521Test