-
1دورية
المؤلفون: Czaja, Z.
مصطلحات موضوعية: detekcja uszkodzeń, lokalizacja uszkodzeń, samotestowanie, BIST, elektroniczne systemy wbudowane, mikrokontrolery, fault detection and localization, self-testing, electronic embedded systems, microcontrollers
-
2دورية
-
3دورية
-
4دورية
المؤلفون: Czaja, Z., Załęski, D.
مصطلحات موضوعية: detekcja uszkodzeń, lokalizacja uszkodzeń, samotestowanie, BIST, elektroniczne systemy wbudowane, mikrokontrolery, fault detection and localisation, self-testing, electronic embedded systems, microcontrollers