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1كتاب
المؤلفون: Pallier, Céline, Jarry, Marc, Bon, François, Lelouvier, Laure-Amélie
المساهمون: Institut national de recherches archéologiques préventives (Inrap), Travaux et recherches archéologiques sur les cultures, les espaces et les sociétés (TRACES), École des hautes études en sciences sociales (EHESS)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Ministère de la Culture et de la Communication (MCC)-Institut national de recherches archéologiques préventives (Inrap)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
المصدر: Hiatus, lacunes et absences : identifier et interpréter les vides archéologiques. Actes du 29e Congrès préhistorique de France, 31 mai-4 juin 2021, Toulouse ; https://hal.science/hal-04537187Test ; Hiatus, lacunes et absences : identifier et interpréter les vides archéologiques. Actes du 29e Congrès préhistorique de France, 31 mai-4 juin 2021, Toulouse, Session Les espaces vides : preuves d’absences ou absences de preuves ?, Société préhistorique française, pp.65-84, 2024
مصطلحات موضوعية: Dating, Upper Palaeolithic, gap, geoarchaeology, karst, last glaciation (MIS 3 and MIS 2), Dating Upper Palaeolithic gap geoarchaeology karst last glaciation (MIS 3 and MIS 2) Pyrenees, Pyrenees, datation, Paléolithique supérieur, lacune, géoarchéologie, dernière glaciation (MIS 3 et MIS 2), Pyrénées, [SHS]Humanities and Social Sciences, [SHS.ARCHEO]Humanities and Social Sciences/Archaeology and Prehistory
العلاقة: hal-04537187; https://hal.science/hal-04537187Test; https://hal.science/hal-04537187/documentTest; https://hal.science/hal-04537187/file/CPF%2029%20-%20Session%20D04%20Pallier%20BAT.pdfTest
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2كتاب
المؤلفون: Pallier, Céline, Jarry, Marc, Bon, François, Lelouvier, Laure-Amélie
المساهمون: Institut national de recherches archéologiques préventives (Inrap), Travaux et recherches archéologiques sur les cultures, les espaces et les sociétés (TRACES), École des hautes études en sciences sociales (EHESS)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Ministère de la Culture et de la Communication (MCC)-Institut national de recherches archéologiques préventives (Inrap)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
المصدر: Hiatus, lacunes et absences : identifier et interpréter les vides archéologiques. Actes du 29e Congrès préhistorique de France, 31 mai-4 juin 2021, Toulouse ; https://hal.science/hal-04537187Test ; Hiatus, lacunes et absences : identifier et interpréter les vides archéologiques. Actes du 29e Congrès préhistorique de France, 31 mai-4 juin 2021, Toulouse, Session Les espaces vides : preuves d’absences ou absences de preuves ?, Société préhistorique française, pp.65-84, 2024
مصطلحات موضوعية: Dating, Upper Palaeolithic, gap, geoarchaeology, karst, last glaciation (MIS 3 and MIS 2), Dating Upper Palaeolithic gap geoarchaeology karst last glaciation (MIS 3 and MIS 2) Pyrenees, Pyrenees, datation, Paléolithique supérieur, lacune, géoarchéologie, dernière glaciation (MIS 3 et MIS 2), Pyrénées, [SHS]Humanities and Social Sciences, [SHS.ARCHEO]Humanities and Social Sciences/Archaeology and Prehistory
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3كتاب
المؤلفون: Pallier, Céline, Jarry, Marc, Bon, François, Lelouvier, Laure-Amélie
المساهمون: Institut national de recherches archéologiques préventives (Inrap), Travaux et recherches archéologiques sur les cultures, les espaces et les sociétés (TRACES), École des hautes études en sciences sociales (EHESS)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Ministère de la Culture et de la Communication (MCC)-Institut national de recherches archéologiques préventives (Inrap)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
المصدر: Hiatus, lacunes et absences : identifier et interpréter les vides archéologiques. Actes du 29e Congrès préhistorique de France, 31 mai-4 juin 2021, Toulouse ; https://hal.science/hal-04537187Test ; Hiatus, lacunes et absences : identifier et interpréter les vides archéologiques. Actes du 29e Congrès préhistorique de France, 31 mai-4 juin 2021, Toulouse, Session Les espaces vides : preuves d’absences ou absences de preuves ?, Société préhistorique française, pp.65-84, 2024
مصطلحات موضوعية: Dating, Upper Palaeolithic, gap, geoarchaeology, karst, last glaciation (MIS 3 and MIS 2), Dating Upper Palaeolithic gap geoarchaeology karst last glaciation (MIS 3 and MIS 2) Pyrenees, Pyrenees, datation, Paléolithique supérieur, lacune, géoarchéologie, dernière glaciation (MIS 3 et MIS 2), Pyrénées, [SHS]Humanities and Social Sciences, [SHS.ARCHEO]Humanities and Social Sciences/Archaeology and Prehistory
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4دورية أكاديمية
المؤلفون: Garaoun, Massinissa
المساهمون: Garaoun, Massinissa (depositor), Garaoun, Massinissa (researcher)
مصطلحات موضوعية: mis, Chaoui des Amouchas
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5دورية أكاديمية
المؤلفون: Garaoun, Massinissa
المساهمون: Garaoun, Massinissa (depositor), Garaoun, Massinissa (researcher)
مصطلحات موضوعية: mis, Chaoui des Amouchas
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6دورية أكاديمية
المؤلفون: Manuel Alcaraz-Castaño
المصدر: Trabajos de Prehistoria, Vol 80, Iss 1 (2023)
مصطلحات موضوعية: neandertales, humanos anatómicamente modernos, península ibérica, meseta, MIS 3, MIS 2, Archaeology, CC1-960
العلاقة: https://tp.revistas.csic.es/index.php/tp/article/view/934Test; https://doaj.org/toc/0082-5638Test; https://doaj.org/toc/1988-3218Test; https://doaj.org/article/ad52a706fb2d49d4b83b6971c1eeb8f0Test
الإتاحة: https://doi.org/10.3989/tp.2023.12318Test
https://doaj.org/article/ad52a706fb2d49d4b83b6971c1eeb8f0Test -
7مؤتمر
المؤلفون: Lambert, Adrien, Morel, Hervé, Tournier, D., Planson, Dominique, Phung, Luong Viêt, Guillot, Laurent
المساهمون: Ampère, Département Energie Electrique (EE), Ampère (AMPERE), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE), STMicroelectronics
المصدر: 5ème Symposium de Génie Electrique (SGE 2023)
https://hal.science/hal-04150168Test
5ème Symposium de Génie Electrique (SGE 2023), Jul 2023, Lille, France
https://sge2023.sciencesconf.orgTest/مصطلحات موضوعية: Court-circuit, robustesse, fiabilité, GaN, transistor, MIS-HEMT, normally-ON, [SPI.NRJ]Engineering Sciences [physics]/Electric power, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics
العلاقة: hal-04150168; https://hal.science/hal-04150168Test; https://hal.science/hal-04150168/documentTest; https://hal.science/hal-04150168/file/SGE_2023.pdfTest
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8مؤتمر
المؤلفون: Lambert, Adrien, Morel, Hervé, Tournier, D., Planson, Dominique, Phung, Luong Viêt, Guillot, Laurent
المساهمون: Ampère, Département Energie Electrique (EE), Ampère (AMPERE), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE), STMicroelectronics
المصدر: 5ème Symposium de Génie Electrique (SGE 2023)
https://hal.science/hal-04150168Test
5ème Symposium de Génie Electrique (SGE 2023), Jul 2023, Lille, France
https://sge2023.sciencesconf.orgTest/مصطلحات موضوعية: Court-circuit, robustesse, fiabilité, GaN, transistor, MIS-HEMT, normally-ON, [SPI.NRJ]Engineering Sciences [physics]/Electric power, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics
العلاقة: hal-04150168; https://hal.science/hal-04150168Test; https://hal.science/hal-04150168/documentTest; https://hal.science/hal-04150168/file/SGE_2023.pdfTest
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9مؤتمر
المؤلفون: Lambert, Adrien, Morel, Hervé, Tournier, D., Planson, Dominique, Phung, Luong Viêt, Guillot, Laurent
المساهمون: Ampère, Département Energie Electrique (EE), Ampère (AMPERE), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE), STMicroelectronics
المصدر: 5ème Symposium de Génie Electrique (SGE 2023)
https://hal.science/hal-04150168Test
5ème Symposium de Génie Electrique (SGE 2023), Jul 2023, Lille, France
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10مؤتمر
المؤلفون: Lambert, Adrien, Morel, Hervé, Tournier, D., Planson, Dominique, Phung, Luong Viêt, Guillot, Laurent
المساهمون: Ampère, Département Energie Electrique (EE), Ampère (AMPERE), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE), STMicroelectronics
المصدر: 5ème Symposium de Génie Electrique (SGE 2023)
https://hal.science/hal-04150168Test
5ème Symposium de Génie Electrique (SGE 2023), Jul 2023, Lille, France
https://sge2023.sciencesconf.orgTest/مصطلحات موضوعية: Court-circuit, robustesse, fiabilité, GaN, transistor, MIS-HEMT, normally-ON, [SPI.NRJ]Engineering Sciences [physics]/Electric power, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics
العلاقة: hal-04150168; https://hal.science/hal-04150168Test; https://hal.science/hal-04150168/documentTest; https://hal.science/hal-04150168/file/SGE_2023.pdfTest
