-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Pansoo Kim1 pskim@knu.ac.kr, Yu Ding2 yuding@iemail.tamu.edu
المصدر: Technometrics. Aug2005, Vol. 47 Issue 3, p336-348. 13p.
مصطلحات موضوعية: *ENGINEERING design, *INDUSTRIAL design, *DATA mining, *DATABASE searching, *DATABASE marketing, COMBINATORIAL optimization
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Shiyu Zhou1 szhou@engr.wisc.edu, Yu Ding2 yuding@iemail.tamu.edu, Yong Chen3 yong-chen@uiowa.edu, Jianjun Shi4 shihang@umich.edu
المصدر: Technometrics. Nov2003, Vol. 45 Issue 4, p312-325. 14p.
مصطلحات موضوعية: *QUALITY control, *STANDARDIZATION, *STATISTICAL sampling, *ANALYSIS of variance, *VARIANCES, MULTILEVEL models
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Jung Jin Cho, Yong Chen, Yu Ding
المصدر: Technometrics; Feb2009, Vol. 51 Issue 1, p34-46, 13p, 7 Diagrams, 2 Charts
مصطلحات موضوعية: SYSTEM failures, BREAKDOWNS (Machinery), SERVICE life, ROBUST control, SPARSE matrices, REGRESSION analysis, ALGORITHMS
-
4مراجعة
المؤلفون: Yu Ding1
المصدر: Technometrics. May2005, Vol. 47 Issue 2, p240-241. 2p.
مصطلحات موضوعية: RELIABILITY (Personality trait), NONFICTION
Reviews & Products: DESIGN & Analysis of Accelerated Tests for Mission-Critical Reliability (Book)