The Near-Field Far-Field Transition in Interferometric Microscopy: Implications for Superresolution Approaches

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: The Near-Field Far-Field Transition in Interferometric Microscopy: Implications for Superresolution Approaches
المؤلفون: Totzeck, M., Tiziani, H.J.
المصدر: Proceedings of European Meeting on Lasers and Electro-Optics CLEOE-96
بيانات النشر: IEEE
سنة النشر: 1996
نوع الوثيقة: conference object
اللغة: unknown
DOI: 10.1109/cleoe.1996.562005
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/cleoe.1996.562005Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx3/3984/12226/00562005.pdf?arnumber=562005Test
رقم الانضمام: edsbas.28EC83F3
قاعدة البيانات: BASE