مؤتمر
The Near-Field Far-Field Transition in Interferometric Microscopy: Implications for Superresolution Approaches
العنوان: | The Near-Field Far-Field Transition in Interferometric Microscopy: Implications for Superresolution Approaches |
---|---|
المؤلفون: | Totzeck, M., Tiziani, H.J. |
المصدر: | Proceedings of European Meeting on Lasers and Electro-Optics CLEOE-96 |
بيانات النشر: | IEEE |
سنة النشر: | 1996 |
نوع الوثيقة: | conference object |
اللغة: | unknown |
DOI: | 10.1109/cleoe.1996.562005 |
الإتاحة: | https://doi.org/10.1109/cleoe.1996.562005Test http://xplorestaging.ieee.org/ielx3/3984/12226/00562005.pdf?arnumber=562005Test |
رقم الانضمام: | edsbas.28EC83F3 |
قاعدة البيانات: | BASE |
DOI: | 10.1109/cleoe.1996.562005 |
---|