يعرض 1 - 6 نتائج من 6 نتيجة بحث عن '"Liniger, E."', وقت الاستعلام: 1.42s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Materials and scaling effects on on-chip interconnect reliability.

    المؤلفون: Hu, C.-K., Liniger, E. G., Gignac, L. M., Bonilla, G., Edelstein, D.

    المصدر: MRS Online Proceedings Library; 2013, Vol. 1559 Issue 1, p1-11, 11p


    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    مؤتمر
    Electromigration Reliability in Nanoscale Cu Interconnects.

    المؤلفون: Hu, C.-K., Gignac, L. M., Baker-O'Neal, B. C., Bonilla, G., Liniger, E. G., Flaitz, P. L.

    المصدر: MRS Online Proceedings Library; 2007, Vol. 1036 Issue 1, p1-11, 11p


    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    مؤتمر
    Application of Nanoindentation to Characterize Fracture in ILD Films Used in the BEOL.

    المؤلفون: Simonyi, Eva E., Liniger, E., Lane, M., Lin, Q., Dimitrakopoulos, C. D., Tyberg, C.

    المصدر: MRS Online Proceedings Library; 2005, Vol. 863 Issue 1, p1-7, 7p


    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    مؤتمر
    Modified Edge Lift-Off Test: Experimental Modifications for Multifilm Systems.

    المؤلفون: Hay, J. C., Liniger, E. G., Liu, X. H.

    المصدر: MRS Online Proceedings Library; Dec1999, Vol. 561 Issue 1, p365-370, 6p


    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    مؤتمر
    Porous Organosilicates for On-Chip Dielectric Applications.

    المؤلفون: Miller, R. D., Beyers, R., Carter, K. R., Cook, R. F., Harbison, M., Hawker, C. J., Hedrick, J. L., Lee, V., Liniger, E., Nguyen, C., Remenar, J., Sherwood, M., Trollsås, M., Volksen, W., Yoon, D. Y.

    المصدر: MRS Online Proceedings Library; 1999, Vol. 565 Issue 1, p3-15, 13p


    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    مؤتمر
    Thermal and Electromigration Strain Distributions in 10 μm-Wide Aluminum Conductor Lines Measured by X-Ray Microdiffraction.

    المؤلفون: Wang, P.-C., Cargill III, G. S., Noyan, I. C., Liniger, E. G., Hu, C.-K., Lee, K. Y.

    المصدر: MRS Online Proceedings Library; 1997, Vol. 473 Issue 1, p273-278, 6p


    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS — أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني — حفظ البحث