Roughness power spectral density as a function of aerial image and basic process/resist parameter

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Roughness power spectral density as a function of aerial image and basic process/resist parameter
المؤلفون: Cutler, Charlotte A., Lee, Choong Bong, Thackeray, James W., Nelson, John, DeSisto, Jason, Rena, Rochelle, Trefonas, Peter, Mack, Chris A.
المساهمون: Gronheid, Roel, Sanders, Daniel P.
المصدر: Advances in Patterning Materials and Processes XXXVI
بيانات النشر: SPIE
سنة النشر: 2019
نوع الوثيقة: conference object
اللغة: unknown
DOI: 10.1117/12.2515073
الإتاحة: https://doi.org/10.1117/12.2515073Test
رقم الانضمام: edsbas.58F9DC1F
قاعدة البيانات: BASE