Electrical Noise Analysis of L-Shaped Gate Tunnel Field Effect Transistor

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Electrical Noise Analysis of L-Shaped Gate Tunnel Field Effect Transistor
المؤلفون: Sweta Chander, Rekha Chaudhary, Sanjeet Kumar Sinha
المصدر: 2022 IEEE VLSI Device Circuit and System (VLSI DCS).
بيانات النشر: IEEE, 2022.
سنة النشر: 2022
الوصول الحر: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7e9bcf484e7921071ef9ba422c2593fcTest
https://doi.org/10.1109/vlsidcs53788.2022.9811457Test
حقوق: CLOSED
رقم الانضمام: edsair.doi...........7e9bcf484e7921071ef9ba422c2593fc
قاعدة البيانات: OpenAIRE