مؤتمر
Study of strained effects in nanoscale GAA nanowire FETs using 3D Monte Carlo simulations
| العنوان: | Study of strained effects in nanoscale GAA nanowire FETs using 3D Monte Carlo simulations |
|---|---|
| المؤلفون: | Elmessary, Muhammad A., Nagy, Daniel, Aldegunde, Manuel, Garcia-Loureiro, Antonio J., Kalna, Karol |
| المصدر: | 2017 47th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC) |
| بيانات النشر: | IEEE |
| سنة النشر: | 2017 |
| نوع الوثيقة: | conference object |
| اللغة: | unknown |
| DOI: | 10.1109/essderc.2017.8066622 |
| الإتاحة: | https://doi.org/10.1109/essderc.2017.8066622Test http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/8059714/8066575/08066622.pdf?arnumber=8066622Test |
| رقم الانضمام: | edsbas.86E97879 |
| قاعدة البيانات: | BASE |
| DOI: | 10.1109/essderc.2017.8066622 |
|---|