مؤتمر
Analysis of the reliability impact on high-k metal gate SRAM with assist-circuit
| العنوان: | Analysis of the reliability impact on high-k metal gate SRAM with assist-circuit |
|---|---|
| المؤلفون: | Chiu, Y.T., Wang, Y.F., Lee, Y.-H., Liang, Y.C., Wang, T.C., Wu, S.Y., Hsieh, C.C., Wu, K. |
| المصدر: | 2014 IEEE International Reliability Physics Symposium |
| بيانات النشر: | IEEE |
| سنة النشر: | 2014 |
| نوع الوثيقة: | conference object |
| اللغة: | unknown |
| DOI: | 10.1109/irps.2014.6861171 |
| الإتاحة: | https://doi.org/10.1109/irps.2014.6861171Test http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/6850132/6860565/06861171.pdf?arnumber=6861171Test |
| رقم الانضمام: | edsbas.8B2D92E2 |
| قاعدة البيانات: | BASE |
| DOI: | 10.1109/irps.2014.6861171 |
|---|