Al redistribution into SiO/sub 2//Si system during oxidation of high dose Al-implanted silicon

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Al redistribution into SiO/sub 2//Si system during oxidation of high dose Al-implanted silicon
المؤلفون: Iacona, F., Raineri, V., La Via, F., Gasparotto, A., Cali, D., Rimini, E.
المصدر: 1998 International Conference on Ion Implantation Technology. Proceedings (Cat. No.98EX144)
بيانات النشر: IEEE
سنة النشر: 2003
نوع الوثيقة: conference object
اللغة: unknown
DOI: 10.1109/iit.1999.812070
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/iit.1999.812070Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/6566/17540/00812070.pdf?arnumber=812070Test
رقم الانضمام: edsbas.593731E4
قاعدة البيانات: BASE