دورية أكاديمية
Error Recovery Effect and High Reliable Method for Endurance in TaOx ReRAM
| العنوان: | Error Recovery Effect and High Reliable Method for Endurance in TaOx ReRAM / TaOx ReRAMの書き換え耐久性におけるエラー回復現象を用いた高信頼手法の提案 |
|---|---|
| المؤلفون: | Maeda Kazuki, Shouhei Fukuyama, Takeuchi Ken, 前田 一輝, 福山 将平, 竹内 健 |
| المصدر: | JSAP Annual Meetings Extended Abstracts. 2017, :2987 |
| قاعدة البيانات: | J-STAGE |
| تدمد: | 24367613 |
|---|---|
| DOI: | 10.11470/jsapmeeting.2017.2.0_2987 |