دورية أكاديمية

4.3 Assessment of MgO PDP Protective Layer by Measurement of Sputtering Yield under Low Energy Ion Beam(6 セル設計)(Report on IDRC '99)

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: 4.3 Assessment of MgO PDP Protective Layer by Measurement of Sputtering Yield under Low Energy Ion Beam(6 セル設計)(Report on IDRC '99)
المؤلفون: C. Mace, C. Schwbel
المصدر: ITE Technical Report. 1999, :15
قاعدة البيانات: J-STAGE
الوصف
تدمد:13426893
24241970
DOI:10.11485/itetr.23.67.0_15_2