يعرض 1 - 3 نتائج من 3 نتيجة بحث عن '"Pichler, P"', وقت الاستعلام: 0.79s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية
    Distortion of sims profiles due to ion beam mixing: Shallow arsenic implants in silicon.

    المؤلفون: Montandon, C., Bourenkov, A., Frey, L., Pichler, P., Biersack, J. P.

    المصدر: Radiation Effects & Defects in Solids; Sep1998, Vol. 145 Issue 3, p213-223, 11p


    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    دورية أكاديمية
    Distortion of SIMS profiles due to ion beam mixing.

    المؤلفون: Saggio, M., Montandon, C., Bourenkov, A., Frey, L., Pichler, P.

    المصدر: Radiation Effects & Defects in Solids; Jun1997, Vol. 141 Issue 1-4, p37-52, 16p


    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    دورية أكاديمية
    On modeling of ion implantation at high temperatures.

    المؤلفون: Pichler, P., Schork, R.

    المصدر: Radiation Effects & Defects in Solids; Jan1994, Vol. 127 Issue 3/4, p367-384, 18p


    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS — أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني — حفظ البحث