يعرض 1 - 10 نتائج من 13 نتيجة بحث عن '"Self-testing"', وقت الاستعلام: 0.82s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية
    A 2?15-GHz Accurate Built-in-Self-Test System for Wideband Phased Arrays Using Self-Correcting Eight-State $I/Q$ Mixers.

    المؤلفون: Kanar, Tumay1, Zihir, Samet1, Rebeiz, Gabriel M.1

    المصدر: IEEE Transactions on Microwave Theory & Techniques. Dec2016 Part 1, Vol. 64 Issue 12a, p4250-4261. 12p.

    مصطلحات موضوعية: *BROADBAND communication systems, SELF-testing (Computer science), ERROR-correcting codes, SIGNAL-to-noise ratio, GAIN measurement, SCATTERING parameters (Computer networks)


    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    دورية أكاديمية
    Built-in-Self-Test-Stacked 3-D Ring Oscillator Based on Through Silicon Vias.

    المؤلفون: Jin, Cheng1, Li, Yunjie1, Li, Rui2, Hu, Sanming3, Ding, Liang2, Li, Hongyu2, Zhang, Songbai2

    المصدر: IEEE Transactions on Components, Packaging & Manufacturing Technology. Feb2015, Vol. 5 Issue 2, p217-224. 8p.

    مصطلحات موضوعية: ELECTRIC oscillators, SELF-testing (Computer science), COMPLEMENTARY metal oxide semiconductors, CMOS integrated circuits, DYNAMIC random access memory, SEMICONDUCTOR wafers, OPTICAL properties of silicon, RING lasers, SEMICONDUCTORS testing


    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    دورية أكاديمية
    Software-Based Self-Test of Set-Associative Cache Memories.

    المؤلفون: Di Carlo, S1, Prinetto, P1, Savino, A1

    المصدر: IEEE Transactions on Computers. Jul2011, Vol. 60 Issue 7, p1030-1044. 15p.

    مصطلحات موضوعية: *COMPUTER software, *COMPUTER storage devices, SELF-testing (Computer science), CACHE memory, MICROPROCESSORS, EMBEDDED computer systems


    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    دورية
    The chips almost test themselves. (cover story)

    المؤلفون: Rowe, Martin

    المصدر: Test & Measurement World. Apr2011, Vol. 31 Issue 3, p26-33. 6p.

    مصطلحات موضوعية: *PCI bus (Computer bus), *ENGINEERS, SELF-testing (Computer science), SIGNALS & signaling, AUTOMATIC test equipment

    الشركة/الكيان: PLX Technology Inc. 155098114 PLXT

    People: CONLEY, Reginald


    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    دورية أكاديمية
    Fast Built-In Redundancy Analysis Based on Sequential Spare Line Allocation.

    المؤلفون: Lee, Hayoung1, Kim, Jooyoung1, Cho, Keewon1, Kang, Sungho1

    المصدر: IEEE Transactions on Reliability. Mar2018, Vol. 67 Issue 1, p264-273. 10p.

    مصطلحات موضوعية: *HARDWARE manufacturing, *PROBABILITY theory, REDUNDANCY in engineering, SELF-testing (Computer science), SPARE parts


    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    أخبار
    Covid self-testing kit: Mylab's Coviself to be available at shops, Flipkart within 2-3 days.

    المصدر: FRPT- Retail Snapshot. 6/8/2021, p12-12. 1/2p.

    مصطلحات موضوعية: *COVID-19 pandemic, SELF-testing (Computer science), PATIENT self-monitoring

    الشركة/الكيان: FLIPKART Online Services Pvt. Ltd.


    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    دورية أكاديمية
    New Techniques to Reduce the Execution Time of Functional Test Programs.

    المؤلفون: Gaudesi, Marco1, Pomeranz, Irith2, Reorda, Matteo Sonza3, Squillero, Giovanni3

    المصدر: IEEE Transactions on Computers. Jul2017, Vol. 66 Issue 7, p1268-1273. 6p.

    مصطلحات موضوعية: *COMPUTER software, *COMPUTER algorithms, *EMAIL systems, ARRAY processors, SELF-testing (Computer science)


    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    دورية أكاديمية
    MIHST: A Hardware Technique for Embedded Microprocessor Functional On-Line Self-Test.

    المؤلفون: Bernardi, Paolo1, Ciganda, Lyl Mercedes1, Sanchez, Ernesto1, Reorda, Matteo Sonza1

    المصدر: IEEE Transactions on Computers. Nov2014, Vol. 63 Issue 11, p2760-2771. 12p.

    مصطلحات موضوعية: *INTELLECTUAL property, *FEASIBILITY studies, EMBEDDED computer systems, MICROPROCESSORS, SELF-testing (Computer science), MANIFOLDS (Mathematics)


    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    دورية
    Test & Measurement World: Test High-Speed Memory with Non-Intrusive Embedded Instruments, Part 3.

    المؤلفون: Crouch, Alfred1

    المصدر: EDN Europe. Dec2012, p25-25. 1p.

    مصطلحات موضوعية: *COMPUTER storage devices, *CONJOINT analysis, *COST effectiveness, SELF-testing (Computer science), FIELD programmable gate arrays, GATE array circuits


    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    دورية
    Test & Measurement World: Test high-speed memory with non-intrusive embedded instruments, Part 1.

    المؤلفون: Crouch, Alfred1

    المصدر: EDN Europe. Oct2012, p27-27. 1p.

    مصطلحات موضوعية: *INTEGRATED circuits, SELF-testing (Computer science), ELECTRIC circuits, ELECTRONIC circuit design, LOGIC design


    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS — أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني — حفظ البحث