-
1دورية
المؤلفون: Czaja, Z.
مصطلحات موضوعية: detekcja uszkodzeń, lokalizacja uszkodzeń, samotestowanie, BIST, elektroniczne systemy wbudowane, mikrokontrolery, fault detection and localization, self-testing, electronic embedded systems, microcontrollers
-
2دورية
المؤلفون: Czaja, Z.
المصدر: Pomiary, Automatyka, Kontrola.
مصطلحات موضوعية: samotestowanie, mikrokontroler, wzmacniacze w pełni różnicowe, self-testing, microcontrollers, fully differential op-amps
-
3دورية
المؤلفون: Czaja, Z.
المصدر: Przegląd Elektrotechniczny.
مصطلحات موضوعية: self-testing, microcontrollers, analog to digital converters, samotestowanie, mikrokontrolery, przetworniki analogowo-cyfrowe
-
4دورية
المؤلفون: Czaja, Z.
المصدر: Przegląd Elektrotechniczny.
مصطلحات موضوعية: mikrokontrolery, przetworniki A/C, samotestowanie, niepewność pomiarowa, microcontrollers, ADCs, self-testing, measurement uncertainty
-
5دورية
المؤلفون: Czaja, Z.
المصدر: Pomiary, Automatyka, Kontrola.
مصطلحات موضوعية: mikrokontrolery, przetworniki A/C, samotestowanie, układy BIST, microcontrollers, ADCs, self-testing, measurement, BISTs
-
6دورية
-
7دورية
-
8دورية
المؤلفون: Toczek, W.
المصدر: Metrology and Measurement Systems.
مصطلحات موضوعية: samotestowanie, oscylacyjna metoda testowania, sygnatura uszkodzeń sigma-delta, self-testing, oscillation-test method, sigma-delta fault signature
-
9دورية
المؤلفون: Gamża, W., Hławiczka, A., Kopeć, M.
مصطلحات موضوعية: testing, digital structure, IEEE 1149.1, self-testing, compactor
-
10دورية
المؤلفون: Czaja, Z., Załęski, D.
مصطلحات موضوعية: detekcja uszkodzeń, lokalizacja uszkodzeń, samotestowanie, BIST, elektroniczne systemy wbudowane, mikrokontrolery, fault detection and localisation, self-testing, electronic embedded systems, microcontrollers