-
1دورية
المؤلفون: Kroner, E.1 elmar.kroner@gmx.de, Arzt, E.1,2
المصدر: Journal of the Mechanics & Physics of Solids. Jun2013, Vol. 61 Issue 6, p1295-1304. 10p.
مصطلحات موضوعية: *ADHESIVE joints, *COLUMNS, *PHYSICAL measurements, *MECHANICAL behavior of materials, *DIAMETER, *POLYDIMETHYLSILOXANE, *PARAMETER estimation, *DEFORMATIONS (Mechanics), *MICROSTRUCTURE
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Chatterjee, A.1, Mecking, H.2, Arzt, E.1, Clemens, H.3
المصدر: Materials Science & Engineering: A. Jun2002, Vol. 329-331, p840. 7p.
مصطلحات موضوعية: *TITANIUM alloys, *ALUMINUM alloys, *MICROSTRUCTURE, *METAL creep
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Frick, C.P.1, Clark, B.G. b.g.clark@mf.mpg.de, Orso, S.1, Schneider, A.S.1, Arzt, E.
المصدر: Materials Science & Engineering: A. Aug2008, Vol. 489 Issue 1/2, p319-329. 11p.
مصطلحات موضوعية: *STRAIN hardening, *NICKEL, *ION bombardment, *MICROSTRUCTURE
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Jiang, L.1,2, Pérez-Prado, M.T.1,2 tpprado@cenim.csic.es, Gruber, P.A.3,4, Arzt, E.3,4, Ruano, O.A.1, Kassner, M.E.2
المصدر: Acta Materialia. Apr2008, Vol. 56 Issue 6, p1228-1242. 15p.
مصطلحات موضوعية: *MICROSTRUCTURE, *ZIRCONIUM, *CONSTITUTION of matter, *BACKSCATTERING, *SCATTERING (Physics), *OPTICAL diffraction
-
5دورية أكاديميةDealloying of Au–Ag thin films with a composition gradient: Influence on morphology of nanoporous Au
المؤلفون: Lu, X.1,2, Balk, T.J.1,3 balk@engr.uky.edu, Spolenak, R.1,4, Arzt, E.1
المصدر: Thin Solid Films. Jun2007, Vol. 515 Issue 18, p7122-7126. 5p.
مصطلحات موضوعية: *THIN films, *SOLID state electronics, *MICROMECHANICS, *METALLIC composites
-
6دورية أكاديمية
المؤلفون: Weller *, M.1 (AUTHOR), Clemens, H.2 (AUTHOR), Haneczok, G.3 (AUTHOR), Dehm, G.1 (AUTHOR), Bartels, A.4 (AUTHOR), Bystrzanowski, S.4 (AUTHOR), Gerling, R.5 (AUTHOR), Arzt, E.1 (AUTHOR)
المصدر: Philosophical Magazine Letters. Jun2004, Vol. 84 Issue 6, p383-393. 11p.
مصطلحات موضوعية: *SPECTRUM analysis, *ALLOYS, *MICROSTRUCTURE, *ENTHALPY, *TEMPERATURE, *METALLIC composites
-
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Legros, M.1 legros@mines.u-nancy.fr, Hemker, K.J.2, Gouldstone, A.3, Suresh, S.3, Keller-Flaig, R.-M.4, Arzt, E.4
المصدر: Acta Materialia. Aug2002, Vol. 50 Issue 13, p3435. 18p.
مصطلحات موضوعية: *ALUMINUM, *THIN films, *SILICON, *MICROSTRUCTURE