-
1مؤتمر
المؤلفون: Becker, N., Eggeling, M.
المصدر: Funktionale Sicherheit in industriellen Anwendungen. 11. Internationales TÜV Rheinland Symposium, 13. Mai – 14. Mai, 2014 in Köln
مصطلحات موضوعية: ddc:620
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Becker, N., Eggeling, M., Huelke, M.
المصدر: Elektronik ; ISSN 0013-5658
مصطلحات موضوعية: ddc:620