المؤلفون: Kun-Fang Li, Jie Feng, Yu-Dong Li, Lin Wen, Yong-Jia Kan, Qi Guo

المصدر: Electronics ; Volume 12 ; Issue 17 ; Pages: 3734

مصطلحات موضوعية: nuclear radiation, CMOS camera, image noise, gray gradient, transient noise

وصف الملف: application/pdf

العلاقة: Microelectronics; https://dx.doi.org/10.3390/electronics12173734Test

الإتاحة: https://doi.org/10.3390/electronics12173734Test

المؤلفون: Jie Feng, Hai-Chuan Wang, Yu-Dong Li, Lin Wen, Qi Guo

المصدر: Electronics; Volume 12; Issue 12; Pages: 2667

مصطلحات موضوعية: CMOS image sensor, TID, radiation effects, camera resolution

وصف الملف: application/pdf

العلاقة: Microelectronics; https://dx.doi.org/10.3390/electronics12122667Test

الإتاحة: https://doi.org/10.3390/electronics12122667Test

المؤلفون: Yu-Dong Li, Zhuo-Chao Tang, Zhuo-Jia Fu

المصدر: Mathematics; Volume 8; Issue 11; Pages: 1940

مصطلحات موضوعية: meshless method, functionally graded material, first-order shear deformation theory, bending of plates, numerical simulation

وصف الملف: application/pdf

العلاقة: https://dx.doi.org/10.3390/math8111940Test

الإتاحة: https://doi.org/10.3390/math8111940Test